SA8000半導(dǎo)體參數(shù)分析儀介紹：

SA8000半導(dǎo)體參數(shù)分析儀基于全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的 PXIe 架構(gòu)設(shè)計(jì)，最多支持 18 個(gè)模塊同時(shí)工作，可靈活組合直流 IV、CV、快速脈沖測(cè)量單元，通過高速總線與統(tǒng)一同步觸發(fā)管理，實(shí)現(xiàn)多模塊的精準(zhǔn)協(xié)同測(cè)試，無(wú)需在多臺(tái)儀器間反復(fù)切換，大幅提升測(cè)試效率與數(shù)據(jù)一致性。其核心測(cè)量能力達(dá)到 0.1fA 的電流分辨率，可穩(wěn)定捕捉憶阻器、量子點(diǎn)等器件的超微弱信號(hào)；同時(shí)搭載無(wú)需編程的 Quick Test 模式，支持 Python 自定義器件測(cè)試算法，兼顧了易用性與靈活性，目前已進(jìn)入復(fù)旦大學(xué)、清華大學(xué)等國(guó)內(nèi)高校的采購(gòu)清單，在二維材料、神經(jīng)形態(tài)計(jì)算等前沿研究領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了落地應(yīng)用。

核心性能參數(shù)

電流測(cè)量能力：0.1 fA（10?1? A）超高電流分辨率，可穩(wěn)定捕捉憶阻器、量子點(diǎn)等器件的超微弱信號(hào)

硬件架構(gòu)：基于 PXIe 架構(gòu)，最多支持 18 個(gè)模塊同時(shí)工作，配備高速總線通訊 + 統(tǒng)一同步觸發(fā)管理，無(wú)需多臺(tái)儀器切換

測(cè)試覆蓋：可靈活組合直流 IV、CV、快速脈沖測(cè)量單元，適配多種 PXIe 儀表

軟件能力：

無(wú)需編程的 Quick Test 模式（經(jīng)典測(cè)試 / 應(yīng)用測(cè)試 / 序列測(cè)試三種模式）

支持 Python 編程自定義器件測(cè)試算法，開放二次開發(fā)

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)  
微弱電流探測(cè)
依托在源表領(lǐng)域持續(xù)多年的技術(shù)積累，SA8000實(shí)現(xiàn)了 0.1 fA（10-16 A）的電流測(cè)量分辨率，能穩(wěn)定捕捉憶阻器、量子點(diǎn)等器件的超微弱信號(hào)，為前沿探索提供可靠的微弱信號(hào)測(cè)量能力。

全集成多維度測(cè)試能力
系統(tǒng)基于PXIe架構(gòu)支持最多18個(gè)模塊同時(shí)工作，可靈活組合直流IV、CV及快速脈沖測(cè)量單元。通過高速總線通訊及統(tǒng)一的同步觸發(fā)管理，可以適配多種PXIe儀表。無(wú)需在多臺(tái)儀器間反復(fù)切換，顯著提升測(cè)試效率與數(shù)據(jù)一致性。

無(wú)需編程的Quick Test模式
經(jīng)典測(cè)試模式：支持靈活多樣的參數(shù)配置，滿足多種測(cè)試場(chǎng)景需求；應(yīng)用測(cè)試模式：可選用預(yù)置的多種器件算法，快速測(cè)試器件的特性曲線或關(guān)鍵參數(shù)；序列測(cè)試模式：支持自動(dòng)順序執(zhí)行由多個(gè)經(jīng)典測(cè)試或應(yīng)用測(cè)試編輯的測(cè)試序列；

自定義器件測(cè)試算法
應(yīng)用測(cè)試模式中的器件算法使用python 編程，開放供客戶自定義器件測(cè)試算法。用戶可根據(jù)自身研究需求，自定義器件的測(cè)試過程以及參數(shù)提取算法，極大提升測(cè)試靈活性與算法可復(fù)現(xiàn)性。

主要可選模塊如下：

典型應(yīng)用 

SA8000 廣泛應(yīng)用于各類半導(dǎo)體器件的研發(fā)與測(cè)試場(chǎng)景，涵蓋傳統(tǒng)器件與前沿研究領(lǐng)域：

典型的前沿領(lǐng)域應(yīng)用：
1.憶阻器與神經(jīng)形態(tài)計(jì)算研究?jī)?nèi)置波形產(chǎn)生與快速測(cè)量單元，最小脈寬200ns，可實(shí)時(shí)記錄阻變過程，為類腦計(jì)算芯片提供高保真原始數(shù)據(jù)。
2.二維材料與量子器件研究得益于 0.1fA 的超低電流分辨率測(cè)量能力，SA8000 可精準(zhǔn)表征二維材料（如石墨烯、MoS?）的微弱電導(dǎo)變化，支持量子點(diǎn)等新型器件的工作機(jī)制研究。